Mikrokapcsolók élettartamának vizsgálata
Main Article Content
Absztrakt
A vizsgált mikrokapcsolók meghibásodási analízise során a gyorsított élettartam vizsgálati módszert kívánjuk alkalmazni. A tesztsorozatok eredményeinek elemzésekor meghatározzuk az ún. Weibull-eloszlás paramétereit és vizsgáljuk a tönkremeneteli és meghibásodási folyamatok hatását a mikrokapcsolók élettartamára vonatkozóan.
Letöltések
Article Details
Hogyan kell idézni
Sipkás, Vivien, és Gabriella Vadászné Bognár. 2017. „Mikrokapcsolók élettartamának vizsgálata”. Jelenkori Társadalmi és Gazdasági Folyamatok 12 (4):95-102. https://doi.org/10.14232/jtgf.2017.4.95-102.
Folyóirat szám
Rovat
Tanulmányok